WO2025073599 - VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM AUSWERTEN EINES VON EINEM SPINBASIERTEN QUANTENSYSTEM AUSGEHENDEN MESSSIGNALS

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Publication Number WO/2025/073599
Publication Date 10.04.2025
International Application No. PCT/EP2024/077210
International Filing Date 27.09.2024
Title [German] VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM AUSWERTEN EINES VON EINEM SPINBASIERTEN QUANTENSYSTEM AUSGEHENDEN MESSSIGNALS [English] METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING A MEASUREMENT SIGNAL EMITTED FROM A SPIN-BASED QUANTUM SYSTEM [French] PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE SIGNAL DE MESURE ÉMIS PAR UN SYSTÈME QUANTIQUE À BASE DE SPINS
Applicants ** ROBERT BOSCH GMBH Postfach 30 02 20 70442 Stuttgart, DE
Inventors ** DOLDE, Florian Filderhauptstr. 131 70599 Stuttgart, DE
Priority Data 102023209716.8  05.10.2023  DE
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South Korea Filing 577
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Abstract [German] Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Auswerten eines von einem spinbasierten Quantensystem ausgehenden Messsignals, umfassend ein Anregen des spinbasierten Quantensystems durch ein gepulstes Anregungslicht (320), ein Erfassen des von dem spinbasierten Quantensystem ausgehenden Messsignals, ein Integrieren des Messsignals über ein Integrationsfenster (331) enthaltend einen Signalzeitpunkt eines ersten Lichtpulses (322), um einen Signalwert zu erhalten, ein Integrieren des Messsignals über ein Integrationsfenster (332) enthaltend einen Signalzeitpunkt eines zweiten Lichtpulses (322), um einen Referenzwert zu erhalten, wobei der erste und der zweite Lichtpuls zwei zeitlich versetzte Lichtpulse des Anregungslichts (320) sind, und ein Bestimmen eines Messwerts aus dem Signalwert und dem Referenzwert. [English] The invention relates to a method and a device for analyzing a measurement signal emitted from a spin-based quantum system, having the steps of exciting the spin-based quantum system by means of a pulsed excitation light (320), detecting the measurement signal emitted from the spin-based quantum system, integrating the measurement signal over an integration window (331) containing a signal time of a first light pulse (322), in order to obtain a signal value, integrating the measurement signal over an integration window (332) containing a signal time of a second light pulse (322) in order to obtain a reference value, wherein the first and second light pulse are two time-staggered light pulses of the excitation light (320), and determining a measurement value from the signal value and the reference value. [French] L'invention concerne un procédé et un dispositif d'analyse d'un signal de mesure émis par un système quantique à base de spins, comprenant les étapes suivantes : l'excitation du système quantique à base de spins au moyen d'une lumière d'excitation pulsée (320) ; la détection du signal de mesure émis par le système quantique à base de spins ; l'intégration du signal de mesure sur une fenêtre d'intégration (331) contenant un temps de signal d'une première impulsion lumineuse (322), afin d'obtenir une valeur de signal ; l'intégration du signal de mesure sur une fenêtre d'intégration (332) contenant un temps de signal d'une seconde impulsion lumineuse (322) afin d'obtenir une valeur de référence, les première et seconde impulsions lumineuses étant deux impulsions lumineuses décalées dans le temps de la lumière d'excitation (320) ; et la détermination d'une valeur de mesure à partir de la valeur de signal et de la valeur de référence.